奈米材料分析

本書特色
 
　 
　　「奈米科技」是指在奈米尺度(0.1~100nm)上研究物質的特性和相互作用，以及利用這些特性開發新產品的科學與技術。本書內容是奈米科技的重要內涵之一－奈米檢測與分析的方法與技術。書中介紹了在奈米尺度上原位研究各種奈米結構的電、磁、光、熱、力學等特性；奈米空間的化學過程、物理傳輸過程；以及奈米空間的原子、分子的排列、組裝與其奇異物性的關係之研究方法。包括了全部的奈米材料現代檢測技術，詳述了方法原理與檢測技術，並有具體實例。

本書可供從事奈米材料研究與元件開發的科技人員學習參考，亦可作為相關領域的研究生教材。
 

本書目錄
 
　 
第1章 緒論
第2章 掃瞄穿隧顯微鏡
第3章 原子力顯微術
第4章 針尖化學
第5章 XPS 及與其他技術組合在奈米材料分析中的應用
第6章 紫外光電子能譜在奈米材料分析中的應用
第7章 飛行時間二次離子質譜術、電子能量損失譜和表
面 X 光吸收微細結構等在奈米材料分析中的應用
第8章 歐傑電子能譜在奈米材料分析中的應用
第9章 X 光結構分析技術
第10章 奈米材料的顆粒度分析
第11章 電子顯微分析技術
第12章 振動光譜技術