嵌入式處理器片上追踪調試技術

目錄
第1章 緒論
1.1 嵌入式系統調試技術概述
1.1.1 嵌入式系統的調試技術
1.1.2 嵌入式系統的片上在線錯誤檢測技術
1.1.3 高性能嵌入式多核DSP
1.2 研究內容
1.3 組織結構
參考文獻
第2章 片上調試技術的相關研究
2.1 協議標準
2.1.1 JTAG標準
2.1.2 Nexus標準
2.1.3 MIPI標準
2.2 商業處理器中的片上trace
2.3 支持trace的仿真調試器
2.4 學術研究
參考文獻
第3章 調試模型與片上trace
3.1 基於存儲元件狀態集合的調試模型
3.1.1 處理器系統模型
3.1.2 調試模型
3.2 非入侵可觀測性分析
3.3 片上trace調試技術
3.3.1 嵌入式軟件的調試階段
3.3.2 片上trace調試的內在優勢
3.3.3 片上trace實現模型
3.4 本章小結
參考文獻
第4章 多核片上trace調試框架：TraceDo
4.1 TraceDo框架
4.2 trace信息的採集、壓縮與配置
4.2.1 路徑trace
4.2.2 數據trace
4.2.3 事件trace
4.2.4 功能配置方式
4.3 Trace信息採集壓縮方法的相關研究及比較
4.4 路徑trace方案實驗評估
4.4.1 路徑trace實驗環境
4.4.2 路徑trace實驗結果
4.4.3 事件trace實驗結果
4.5 本章小結
參考文獻
第5章 trace片上傳輸結構
5.1 trace流傳輸問題分析
5.2 核內trace流的兩級緩衝傳輸結構
5.2.1 核內trace流傳輸的實現結構
5.2.2 K-N緩衝結構模型與面積建模
5.2.3 面積-溢出折中的結構參數選擇
5.3 核間tmce流的合成調度算法
5.3.1 trace流合成的分析與相關研究
5.3.2 trace流的合成調度算法
5.3.3 性能評估與比較
5.4 本章小結
參考文獻
第6章 Trace輔助的程序分析、調試與調優
6.1 片上trace應用概述
6.2 多核程序的分析與調優
6.2.1 基於Qlink傳輸的2D-FFT並行算法
6.2.2 TraceDo輔助的程序分析與調優
6.3 路徑trace支持的預取排布
6.3.1 相關研究
6.3.2 程序週期行為
6.3.3 執行週期預取
6.3.4 面向周期預期的代碼排布
6.3.5 性能評估與比較
6.4 本章小結
參考文獻
第7章 程序控制流錯誤的檢測方法：V-CFC
7.1 程序控制流錯誤及檢測
7.1.1 概述
7.1.2 控制流錯誤類型分析
7.1.3 相關研究
7.2 V—CFC方法
7.2.1 概述
7.2.2 層次化特徵值
7.2.3 特徵值指令
7.2.4 特徵值檢查
7.2.5 特徵值指令優化
7.2.6 增加覆蓋率的措施
7.3 軟硬件實現
7.4 性能評估
7.4.1 方法與環境
7.4.2 特徵值混淆
7.4.3 存儲耗費與性能代價
7.4.4 故障覆蓋率
7.4.5 故障檢測延遲
7.4.6 綜合性能比較
7.5 本章小結
參考文獻
縮略語