On-Chip ESD Protection for Integrated Circuits: An IC Design Perspective (Hardcover)
暫譯: 集成電路的片上ESD保護:IC設計視角(精裝版)

Albert Z.H. Wang

  • 出版商: KAP
  • 出版日期: 2002-01-31
  • 售價: $1,600
  • 貴賓價: 9.8$1,568
  • 語言: 英文
  • 頁數: 303
  • 裝訂: Hardcover
  • ISBN: 0792376471
  • ISBN-13: 9780792376477
  • 相關分類: 電子學 Eletronics電路學 Electric-circuits
  • 立即出貨 (庫存=1)

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商品描述

Description

This comprehensive and insightful book discusses ESD protection circuit design problems from an IC designer's perspective. On-Chip ESD Protection for Integrated Circuits: An IC Design Perspective provides both fundamental and advanced materials needed by a circuit designer for designing ESD protection circuits, including:

  • Testing models and standards adopted by U.S. Department of Defense, EIA/JEDEC, ESD Association, Automotive Electronics Council, International Electrotechnical Commission, etc.
  • ESD failure analysis, protection devices, and protection of sub-circuits
  • Whole-chip ESD protection and ESD-to-circuit interactions
  • Advanced low-parasitic compact ESD protection structures for RF and mixed-signal IC's
  • Mixed-mode ESD simulation-design methodologies for design prediction ESD-to-circuit interactions, and more!

Many real world ESD protection circuit design examples are provided. The book can be used as a reference book for working IC designers and as a textbook for students in the IC design field.

Table of Contents

Dedication. Acknowledgements. Preface.
1. Introduction.
2. ESD Test Models.
3. ESD Protection Device Solutions.
4. ESD Protection Circuit Solutions.
5. Advanced ESD Protection; Mixed-Signal, RF and Whole-Chip ESD Protection.
6. ESD Failure Analysis and Modeling.
7. Layout and Technology Influences on ESD Protection Circuit Design.
8. ESD Simulation-Design Methodologies.
9. ESD - Circuit Interactions.
10. Conclusion Remarks and Future Work.
Appendix A: Summary for ESD Test Standards. References.
Appendix B: Commercial ESD Testing Systems.
Appendix C: ESD Protection Circuit Design Checklist.
Index.

商品描述(中文翻譯)

**書籍描述**

這本全面且具洞察力的書籍從集成電路設計師的角度探討了ESD(靜電放電)保護電路設計問題。《集成電路的片上ESD保護:IC設計的視角》提供了電路設計師設計ESD保護電路所需的基本和進階材料,包括:

- 美國國防部、EIA/JEDEC、ESD協會、汽車電子委員會、國際電工委員會等所採用的測試模型和標準。
- ESD失效分析、保護裝置及子電路的保護。
- 整晶片ESD保護及ESD與電路的相互作用。
- 用於RF和混合信號IC的先進低寄生緊湊型ESD保護結構。
- 混合模式ESD模擬設計方法論,用於設計預測ESD與電路的相互作用,等等!

書中提供了許多現實世界的ESD保護電路設計範例。這本書可作為在職IC設計師的參考書籍,也可作為IC設計領域學生的教科書。

**目錄**

獻辭。致謝。前言。
1. 介紹。
2. ESD測試模型。
3. ESD保護裝置解決方案。
4. ESD保護電路解決方案。
5. 先進的ESD保護;混合信號、RF和整晶片ESD保護。
6. ESD失效分析與建模。
7. 佈局和技術對ESD保護電路設計的影響。
8. ESD模擬設計方法論。
9. ESD - 電路相互作用。
10. 結論與未來工作。
附錄A:ESD測試標準摘要。參考文獻。
附錄B:商業ESD測試系統。
附錄C:ESD保護電路設計檢查表。
索引。