Handbook of Microwave Component Measurements: with Advanced VNA Techniques, 2/e (Hardcover)
暫譯: 微波元件測量手冊：進階VNA技術，第2版（精裝本）

《微波元件測量手冊》第二版是一本全面更新的完整參考書，專注於現代測量工具，如向量網路分析儀（Vector Network Analyzer, VNA），將所有測量科學的概念、公式和最佳實踐集中於一處。每一章節都包含基本概念，並附有附錄，提供理解微波測量背後科學所需的所有細節。本書深入探討確定被測試設備（Device Under Test, DUT）真實特性的最佳實踐，優化設置和測量的時間，並在可能的範圍內，消除測量設備對結果的影響。此外，作者以簡單易懂的方式撰寫，讓學生或新工程師輕鬆接觸，同時又足夠詳盡，提供即使是最先進應用和研究者所需的測量科學細節。這本受歡迎的新版本引入了當今行業中使用的最現代技術，並認識到自2012年首次出版以來，已經發展出更多新技術。雖然仍然專注於VNA，但這些技術也與其他廠商的先進設備相容，提供了一個全面的行業參考。

Dr. Joel P. Dunsmore, Research Fellow at Keysight Technologies, California, USA
Since graduating from Oregon State University with a BSEE (1982) and an MSEE (1983), Joel Dunsmore has worked for Keysight Technologies (formerly Agilent Technologies, and Hewlett-Packard) at the Sonoma County Site. He received his Ph.D. from Leeds University in 2004. He was a principle contributor to the HP 8753 and PNA family of network analyzers, responsible for RF and Microwave circuit designs in these products. Recently, he has worked in the area of non-linear test including differential devices, and mixer measurements. He has received 31 patents related to this work, has published numerous articles on measurement technology, as well as consulting on measurement applications. He has taught electrical circuit fundamentals at the local university and co-taught an RF course at the University of California, Berkeley, and presented several short courses and seminars through ARFTG, MTT, EMC, and Keysight.

**喬爾·P·鄧斯莫博士，美國加州Keysight Technologies的研究員**
自1982年獲得俄勒岡州立大學的電機工程學士學位（BSEE）及1983年獲得電機工程碩士學位（MSEE）以來，喬爾·鄧斯莫一直在Keysight Technologies（前身為Agilent Technologies和惠普）位於索諾瑪縣的基地工作。他於2004年獲得利茲大學的博士學位。他是HP 8753和PNA系列網路分析儀的主要貢獻者，負責這些產品中的射頻（RF）和微波電路設計。最近，他在非線性測試領域工作，包括差分設備和混頻器測量。他在這方面獲得了31項專利，並發表了多篇有關測量技術的文章，還提供測量應用的諮詢服務。他在當地大學教授電路基礎課程，並在加州大學伯克利分校共同教授射頻課程，還通過ARFTG、MTT、EMC和Keysight舉辦了幾個短期課程和研討會。